تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۳,۵۳ ثانیه یافت شد.

1. Electromigration in thin films and electronic devices :

پدیدآورنده : edited by Choong-Un Kim

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Electrodiffusion,Integrated circuits-- Deterioration,Interconnects (Integrated circuit technology),Thin films

رده :

TK7874

.

E478

2011

»
1
«

این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است